 |
SEM ProX
Desktop Phenom skenirajući elektronski mikroskop (SEM) služi za određivanje morfologije i hemijskog sastava (EDS) površinskog sloja materijala.
Uređaj je nabavljen u okviru naučnog-istraživačkog projekta TR35021.
Optičko uvećanje: 20-135x
Elektronsko uvećanje: 80-130.000x
Digitalni zum: max. 12x
Rezolucija: 10 nm
Napon snopa elektrona: 5 kV, 10 kV i 15 kV
Max. dimenzije uzorka: prečnik 25 mm, visina 10 mm |
 |
Micro Scratch Tester & Nano Hardness Tester
Uređaj, proizvođača Anton Paar-a, služi za određivanje mehaničkih karakteristika (nano tvrdoća i modul elastičnosti) i tribomehaničkih adhezivnih karakteristika tankih površinskih slojeva materijala. Uređaj je nabavljen u okviru naučnog-istraživačkog projekta TR35021
MST utiskivač: Rockwell C dijam. kupa radijus vrha 100 μm
Opseg sila ( MST): 0.01-30 N
Maksimalna dubina prodiranja (MST): 500 μm
NHT utiskivač: Berkovich trostrana dijam. piramida
Maksimalna sila utiskivanja (NHT): 500 mN
Rezolucija sile (NHT): 0.04 μN
Rezolucija senzora dubine (NHT): 0.04 nm |
 |
Digitalna analitička vaga AET 200-4NM
Kern-ova digitalna analitička vaga sa zatvorenim prostorom za merenje služi za precizno doređivanje mase uzoraka.
Uređaj je nabavljen u okviru naučnog-istraživačkog projekta TR35021
Preciznost merenja: 0.01 mg
Maksimalna masa uzorka: 200 g |
 |
Uređaj za pripremu uzorka metaServ 250
Buehler-ov uređaj služi za pripremu uzoraka u vidu poliranja i brušenja kontaktnih površina materijala. Prilikom pripreme uozka, uređaj ima mogućnost kontrolisanja brzine obrtaja i vreme trajanja.
Uređaj je nabavljen u okviru naučnog-istraživačkog projekta TR35021.
Brzina broja obrtaja: 50-500 rpm
Vreme trajanja: 1-99 min |
 |
AFM P47H-PRO
Mikroskop atomskih sila (AFM), proizvođača NT-MDT, služi za površinsku karakterizaciju kontaktnih površina materijala na atomskom nivou. Zadnjih godina, AFM je postao nezamenljiv uređaj za merenje parametara hrapavosti i vizualizaciju 3D topografije površina, na mikro i nano nivou.
Maksimalni merni opseg: 100x100 μm
Način merenja: SEMI kontakt
Radijus vrha konzole: 10 nm
Maksimalna veličina uzorka: 15x10x10 mm |
 |
Nanotribomatar
CSM Nanotribometar je namenjen za nano tribološka ispitivanja materijala - odredjivanje sile trenja i
koeficijent trenja za zadato normalno kontaktno opterećenje i broj obrtaja/broj ciklusa, prema ASTM G99 standardu.
Kretanje: linearno naiznemično i rotaciono
Veličina normalne sile: 50μN-1N
Veličina sile trenja: 10μN-1N
Dubina prodiranja: 20nm-100μm
Brzna: 1 to 100rpm
Radijus kuglica: 1.5 i 2mm |
 |
Tribometar TPD-95
Kompjuterski podržan Tribometar TR-95 namenjen za tribološka ispitivanja - odredjivanje sile i koeficijenta trenja za odgovarajuce kontaktne uslove (normalno opterecenje i brzinu klizanja) prema ASTM G77 standardu.
Ispitivanja se mogu vršiti u uslovima sa podmazivanjem i bez podmazivanja.
Kontaktna geometrija: Block on Disk
Normalna sila: 0-500 N
Brzina klizanja: 0.2-2.5 m/s
Dimenzije bloka: bb=6.35 mm lb=15.75 mm hb=10.16 mm
Dimenzije diska: Dd=35 mm i bd=6.35 mm |
 |
Mikroskop MC-50T
Meiji Techno's merni mikroskop MC50 namenjen je vizuelnoj kontroli i merenju malih delova i komponenti. Karakteristike:
- precizno pomeranje radnog stola u X, Y i Z pravcu
- uvecanje: 50X, 100X, 200X, 400X i 800X
- CCD color TV kamera
- kompjuterski podržan
|
 |
Mikroskop MT-8530
Meiji Techno's metalurški mikroskop MT8500 sa Plan EPI BD optikom koja obezbeduje izuzetno svetlu i oštru sliku sa dobrim kontrastom boja. Karakteristike:
- precizno pomeranje radnog stola u X, Y i Z pravcu (hod 23mm)
- uvecanje: 50X, 100X, 200X, 400X, 500X i 1000X
- CCD color TV kamera
- kompjuterski podržan
|
 |
Talysurf 6
Kompjuterizovan merni uredaj Talysurf 6 (Taylor Hobson) omogucava kompleksno definisanje stanja kontaktnih površina.
Uredaj odlikuje širok spektar mogucnosti, kao što su:
- merenje osnovnih i dopunskih parametara hrapavosti i valovitosti,
- statisticka obrada rezultata merenja parametara hrapavosti,
- prikazivanje rezultata na ekranu, njihovo memorisanje i štampanje,
- prostorno skeniranje površine.
|
 |
Univerzalni merni mikroskop UIM-21
Univerzalni merni mikroskop UIM-21 namenjen je za merenje dužina, uglova, parametara spoljašnjih i unutrašnjih zavojnica, kontrolu alata, objekata složene konfiguracije, merenje tragova habanja.
|
 |
Kvantifikator čestica PQ2000
PQ 2000 (Particle Quantifier 2000) uređaj namenjen proceni broja metalnih čestica u uzorku ulja. Brzi test traje oko 10 sekundi. Ugljenični materijali ne utiču na procenu broja metalnih čestica. Uzorak ulja se izlaže dejstvu magnetnog polja, prisustvo metalnih čestica uzrokuje narušavanja tog polja što je predstavljeno kao PQ indeks. Opseg detekcije čestica je od 1 do 2000 μm. Prvenstveno je namenjen za ispitivanje hidrauličnih i ulja za podmazivanje.
|
 |
Rotacioni depozitor čestica
R.P.D. (Rotary Particle Depositor) omogucava jednostavan i brz nacin izdvajanja produkata habanja u ulju magnetnom metodom i na taj način se dobijaju uzorci koje je kasnije moguce dodatno ispitivati pod mikroskopom. RPD kombinuje megnetnu i centrifugalnu metodu separacije produkata habanja. Brzina rotacije 0-200 o/min. Širok opseg veličine čestica koje je moguce izdvojiti, praktično od 1 do 2000 μm. Vreme potrebno za depoziciju i pripremu uzorka za analizu pod mikroskopom je oko 6 min. Pogodan je za ispitivanja ulja za podmazivanje, hidrauličnih ulja i maziva.
|
